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简述片式薄膜电阻器的典型失效模式、机理及原因

 

更新时间:2026-02-04 09:34:23

晨欣小编

片式薄膜电阻器是一种常见的电子元件,通常用于电路中作为电阻元件。它们由电阻材料膜层覆盖在陶瓷、玻璃或塑料等基底上制成。然而,由于各种因素,片式薄膜电阻器也可能出现失效。以下是片式薄膜电阻器的典型失效模式、机理及原因的简要说明:


**典型失效模式:**

1. **开路:** 电阻器的电阻值变得无限大,电流无法通过,导致电路断开。

2. **短路:** 电阻器的电阻值变得非常小,接近于零,电流绕过电阻器,导致电路短路。

3. **电阻值漂移:** 电阻器的电阻值随时间、温度等因素发生变化,导致电路性能不稳定。


**失效机理及原因:**

1. **热应力:** 片式薄膜电阻器在工作时会产生热量,如果电阻器周围的温度不适宜,会导致热应力,引发电阻层的膨胀或收缩,从而影响电阻值。

2. **机械应力:** 片式薄膜电阻器可能会在安装或使用过程中受到机械应力,如振动、冲击等,导致电阻层的损伤或剥离,从而引发开路、短路等失效。

3. **湿度:** 片式薄膜电阻器可能在潮湿的环境中受到湿度的影响,导致电阻材料的电导性发生变化,引发电阻值漂移。

4. **腐蚀:** 片式薄膜电阻器可能受到化学物质或腐蚀性环境的影响,导致电阻层的损伤,从而引发失效。

5. **温度循环:** 片式薄膜电阻器在温度循环工况下,由于热膨胀和收缩,可能引发电阻材料和基底之间的剥离,导致失效。


在设计和应用片式薄膜电阻器时,需要考虑这些潜在的失效机理和原因,并采取适当的防护措施,如选择合适的材料、使用适当的包装、控制工作环境等,以减少失效风险。定期的性能测试和质量控制也可以帮助识别潜在的问题并采取措施进行预防和修复。


 

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