简述片式厚膜电阻器的典型失效模式、机理及原因-BOM电子元器件商城

简述片式厚膜电阻器的典型失效模式、机理及原因

2023-11-14 15:10:56

晨欣小编

片式厚膜电阻器的典型失效模式、机理及原因可以总结如下：

过热失效: 这是最常见的失效模式之一。当电流通过电阻器时，由于其内部会产生热量，如果电阻器设计不良或电流超过其额定值，则可能导致电阻器过热。过热会引起电阻器的电阻值发生变化，甚至损坏电阻器。
湿气失效: 片式厚膜电阻器内部通常使用金属薄膜制成，如果防潮措施不好，可能会导致电阻器受潮，从而引起阻值的变化或者电阻器失效。
疲劳失效: 片式厚膜电阻器在长期使用过程中，可能会受到机械应力或温度变化的影响，从而导致金属薄膜的疲劳，最终使电阻器失效。
电压击穿: 当电压超过电阻器的额定工作电压时，可能会导致电阻器发生击穿，电阻器损坏。

以上只是片式厚膜电阻器的典型失效模式之一，机理和原因可能会有所不同。具体的失效模式、机理和原因还可能受到电阻器的制造工艺、材料和使用环境等因素的影响。因此，在设计和使用电子电路时，应根据具体的要求选择合适的电阻器，并确保其正常工作范围内使用。

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