片式膜电阻器是一种常见的电子元件，常用于电路中的电阻调节、电流限制和信号衰减等功能。过电应力失效是片式膜电阻器寿命缩短或失效的一种常见模式。下面是对片式膜电阻器过电应力失效模式及机理的简要研究。

过电应力失效是指片式膜电阻器在超出其额定电压或电流范围时，会发生失效或寿命缩短的现象。这种失效模式主要与以下几个因素有关：

1. 电压应力：当片式膜电阻器承受超过其额定电压的电压应力时，电阻器内部的薄膜可能会受到电压击穿或电弧放电的影响，导致薄膜烧毁或损坏。

2. 电流负载：过大的电流负载会导致片式膜电阻器内部产生过多的热量，超过其能够承受的范围，从而引起薄膜烧毁或损坏。

3. 温度：片式膜电阻器的工作温度超出其额定温度范围时，会加速薄膜的老化和损坏，导致失效。

4. 环境因素：如潮湿、腐蚀性气体等环境因素也可能对片式膜电阻器的寿命产生负面影响。

为了研究片式膜电阻器的过电应力失效模式及机理，可以进行以下工作：

1. 实验测试：通过在不同电压、电流和温度条件下对片式膜电阻器进行实验测试，观察其失效情况，并记录相关数据。

2. 材料分析：对失效的片式膜电阻器进行材料分析，包括薄膜的成分、结构和性能等方面，以确定失效的具体机理。

3. 数值模拟：使用数值模拟方法，对片式膜电阻器的电场分布、温度分布等进行模拟计算，以预测和分析失效的原因和机理。

通过以上研究方法，可以更深入地了解片式膜电阻器过电应力失效的模式和机理，并为设计和制造更可靠的片式膜电阻器提供指导。