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辐射抗扰度测试是电子产品研发过程中非常重要的一环，其目的是验证电子设备在强电磁场干扰下的抗干扰能力。为了满足这一需求，工程师们设计了基于GTEM（ gigahertz transverse electromagnetic）小室的辐射抗扰度测试系统。

GTEM小室是一种特殊的电磁屏蔽室，其结构和原理使其在测试电磁兼容性方面具有独特的优势。在该系统中，GTEM小室的主要作用是提供一个受控的电磁环境，以便测试电子设备在不同频率下的辐射抗扰度。

系统的设计实现涉及多个关键步骤。首先是选择合适的GTEM小室尺寸和频率范围，以确保测试的准确性和可靠性。其次是设计合适的样品支架和电磁场探头，以保证样品在测试过程中的稳定性和接触良好。同时，还需要配置合适的测试设备和软件，以便对测试数据进行采集和分析。

在系统实现过程中，工程师们还需要考虑如何消除外部干扰，提高测试的精准度和可重复性。他们会对系统进行严格的校准和校验，以确保测试结果的准确性。此外，他们还需要根据测试对象的特性，选择合适的测试方法和参数，以保证测试的全面性和有效性。

总的来说，基于GTEM小室的辐射抗扰度测试系统设计实现涉及多个方面的工作，需要工程师们在电磁兼容性和测试技术方面具有丰富的经验和知识。通过这样的系统，电子产品制造企业可以更好地了解其产品在电磁环境下的性能表现，为产品的研发和改进提供重要参考。

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