混装工艺条件下BGA的收缩断裂问题
更新时间：2026-02-19 09:22:06
晨欣小编
BGA，即球栅阵列，是一种新型的封装技术，其在电子设备中得到广泛应用。然而，在混装工艺条件下，BGA容易出现收缩断裂问题，给电子设备的可靠性和性能带来影响。
混装工艺条件下，BGA的收缩断裂问题主要是由于封装材料的热膨胀系数不匹配、焊接工艺不当和外力振动等因素造成的。在电子设备使用过程中，温度的变化会引起封装材料的膨胀和收缩，如果不同材料之间的热膨胀系数不匹配，就会导致BGA的断裂。此外，焊接工艺不当也是导致BGA收缩断裂问题的重要原因之一，焊接温度太高或太低、焊接时间太长或太短都可能导致焊点脆化，从而引起BGA的断裂。
为了解决BGA的收缩断裂问题，首先需要选择合适的封装材料，确保其与基板的热膨胀系数匹配；其次需要优化焊接工艺，控制好焊接温度、时间和压力，确保焊点的质量；此外，还需要加强对BGA的振动测试，及时发现并解决潜在的问题。
总的来说，混装工艺条件下BGA的收缩断裂问题是一个复杂的问题，需要综合考虑材料特性、工艺参数和振动环境等因素，采取相应的措施才能有效解决。只有保证BGA的可靠性和稳定性，才能确保电子设备的正常运行和长期使用。
售前客服