概述: 概述 产品名称：测厚仪 产品别称：高精度测厚仪，薄膜测厚仪，硅片测厚仪，纸张测厚仪，测厚仪，厚度测试仪 测厚仪CHY-C2型号：CHY-C2（另有CHY-CA型号） 用途：主要适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。 标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

特征: 特征 微电脑控制、液晶显示 菜单式界面、PVC操作面板 接触式测量 测头自动升降 手动、自动双重测量模式 数据实时显示、自动统计、打印 显示值、最小值、平均值和统计偏差 标准接触面积、测量压力（非标可选） 标准量块标定 微型打印机 RS232接口 网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输

应用: 应用 该产品可用于检测任何物质的厚度，而且它在测厚的同时向试样的测量表面施加一定的压力，可有效避免由于试样具有压缩性或是表面平整性不好而引起的数据波动较大的情况。 主要应用于薄膜、纸张、片材（如PET、PVC）、铝箔、铜箔的厚度测试，除此领域还可以用于电池隔膜、电池中的铜片、纺织品的测试。