钽电容应用指南：钽电容的使用寿命-BOM电子元器件商城

钽电容应用指南：钽电容的使用寿命

2022-11-12 15:01:53

晨欣小编

2022-11-12 15:01:06

在类别电压 U_C和类别温度 T_C下，电容器的平均故障率为 0.5%/2000 小时，符合 U_C和 T_C的工业试验标准。最短测试周期取决于产品寿命试验时间的长短（测试周期一般大于等于 2000 小时）。

当应用电压 U_A和应用温度 T_A低于类别电压 U_C和类别温度 T_C时，电容器的实际寿命比预期会增加。正常情下，当 U_A<0.9*U_C和

T_A<85℃时，预期寿命通常会超过大多数电子元器件的使用寿命（即寿命>10 年）。

电容器在特定的应用电压与应用温度下的寿命，可以使用下面的公式进行仿真计算。失效的表现为在足够的电流条件下，1A 的保险丝被熔断。计算公式是基于可靠性试验经验结果的估算，不能确保完全符合实际情况。

式中

含义

单位

式中 where

含义

单位

VAF

电压加速系数

无

TAF

温度加速系数

无

E_a

活化能

1.4eV

U_C

类别电压

伏特

玻尔兹曼常数

8.617×10^-5

U_A

应用电压

伏特

T_A

应用温度

℃

指数

T_C

类别温度

℃

式中

含义

单位

式中

含义

单位

加速系数

无

LifeUA,TA

应用电压与温度所对应

年

TAF

温度加速系数

无

LifeUC,TC

类别电压与温度所对应

年

VAF

电压加速系数

无

加速系数

无

注意事项：类别电压，U_C：在类别温度 T_C条件下持续负载的最大直流工作电压；额定电压，U_R：在额定温度 T_R条件下持续负载的最大直流工作电压；类别温度，T_C：允许的最高负载温度，在 T_C条件下需降额；额定温度，T_R：允许的最高负载温度，无需降额。T_R≤T_C。

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