辰达半导体MOS管性能解析及选型指南
一、MOSFET性能指标全解析
MOSFET的性能评估主要围绕以下核心参数展开:
参数名称
含义与影响
V<sub>DS</sub> | 最大漏极-源极电压,决定MOS能承受的最大系统电压 |
I<sub>D</sub> | 最大漏极电流,决定MOS可驱动的负载大小 |
R<sub>DS(on)</sub> | 导通电阻,影响功耗、发热,数值越小越优 |
Q<sub>G</sub> | 栅极总电荷,影响开关速度与驱动功率,值越小越适合高频应用 |
V<sub>GS(th)</sub> | 栅极开启电压,决定MOS开通阈值,与驱动芯片电压匹配相关 |
封装热阻 | 影响器件散热性能,与功率密度直接相关 |


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