二极管失效机理分析及在工业电子中的可靠性设计
更新时间:2026-01-28 09:38:32
晨欣小编
在工业电子系统中,二极管作为最基础、使用最广泛的半导体器件之一,广泛应用于整流、续流、反向保护、钳位、电压隔离及信号整形等场景。尽管二极管结构相对简单,但在高温、高湿、高浪涌、电磁干扰和长时间连续运行的工业环境下,其失效问题依然频繁发生,并可能引发系统级故障,甚至造成严重的安全隐患。
因此,从失效机理出发,系统性分析二极管在工业电子中的可靠性问题,并在设计阶段进行针对性的可靠性设计,是提升工业电子产品稳定性和寿命的关键。

二、二极管的基本结构与工作特性概述
典型二极管由 PN 结构成,其核心特性包括:
单向导通性:正向导通、反向截止
正向压降(VF):与材料、工艺及电流密切相关
反向耐压(VRRM):超过极限将导致击穿
反向漏电流(IR):随温度显著上升
结温(Tj)限制:直接决定器件寿命
工业电子中常用的二极管类型包括:
普通整流二极管
快恢复 / 超快恢复二极管
肖特基二极管
TVS / 稳压二极管(功能型)
不同类型的二极管,其失效机理和可靠性关注点也存在明显差异。
三、二极管常见失效模式
3.1 开路失效
表现形式:
正向无法导通
电路功能失效或保护功能缺失
典型原因:
键合线熔断或脱落
PN 结局部过热导致金属迁移
机械应力或热循环引起内部断裂
在工业电源与控制系统中,开路失效往往导致保护回路失效,风险隐蔽且后果严重。
3.2 短路失效
表现形式:
二极管正反向均呈低阻
电源或信号被直接短接
典型原因:
反向浪涌电压击穿 PN 结
大电流冲击引发结区熔融
静电放电(ESD)损伤
短路失效在工业现场尤为危险,可能引起电源烧毁、保险丝熔断甚至火灾风险。
3.3 参数漂移型失效
表现形式:
正向压降升高
反向漏电流增大
反向耐压下降
典型原因:
长期高温老化
潮湿环境导致表面污染
半导体材料缺陷逐步扩展
该类失效初期不易被发现,却会显著降低系统的可靠性裕量。
四、二极管失效的核心机理分析
4.1 热失效机理
结温过高是二极管最主要的失效诱因之一:
正向导通损耗导致自热
散热路径设计不合理
环境温度长期偏高
结温每升高 10℃,器件寿命通常会下降 30%~50%,这一规律在工业电子中尤为显著。
4.2 电应力与浪涌失效
工业现场常见问题包括:
感性负载关断引发的高 dv/dt
雷击、浪涌、电机启动冲击
电源异常抖动
当反向电压或浪涌电流超过器件额定值时,PN 结会发生不可逆损伤。
4.3 机械与封装相关失效
PCB 热胀冷缩引发焊点疲劳
大尺寸封装受振动冲击
封装开裂导致湿气侵入
在工业控制柜、轨道交通和新能源设备中,这类失效尤为常见。
4.4 环境因素导致的退化失效
高湿环境:加速漏电流上升
腐蚀性气体:引发金属电极腐蚀
粉尘污染:降低表面绝缘能力
这类问题往往与应用场景强相关,设计阶段必须充分考虑。
五、工业电子中二极管可靠性设计原则
5.1 充分的电压与电流降额设计
工程实践中建议:
反向耐压 ≥ 实际最大电压的 1.5~2 倍
正向平均电流 ≤ 额定值的 50%~70%
合理降额是提升长期可靠性的最有效手段之一。
5.2 热设计与结温控制
优化 PCB 铜箔面积与散热通道
选择低 VF、低损耗器件
避免热源集中布局
在高功率整流和续流场景中,必要时应进行热仿真验证。
5.3 针对浪涌与感性负载的保护设计
感性负载并联续流二极管
电源输入端配合 TVS、压敏电阻
合理选择快恢复或肖特基器件
多级防护比单一器件更可靠。
5.4 封装与工艺可靠性考虑
工业级或车规级封装优先
关注焊盘设计与焊接工艺
避免器件长期处于机械应力集中区
六、典型工业应用场景分析
6.1 工业电源与整流系统
重点关注:
长期高温运行
输入浪涌冲击
大电流循环应力
建议选择高可靠整流二极管并预留充足降额空间。
6.2 PLC 与工业控制 I/O
信号钳位与反接保护
高 ESD 抗扰度要求
小功率二极管的参数稳定性尤为重要。
6.3 新能源与电机驱动系统
高频开关环境
大 dv/dt 与 di/dt
需重点关注快恢复特性和反向恢复损耗。
七、结语
二极管虽小,却是工业电子系统可靠性的关键基础器件之一。通过深入理解其失效机理,并在选型、电气降额、热设计、防护设计及工艺层面进行系统性的可靠性设计,可以显著降低现场失效率,延长设备使用寿命。
在工业电子不断向高功率、高可靠、长寿命方向发展的背景下,对二极管等基础器件的失效分析与可靠性设计,将越来越成为工程师不可忽视的核心能力。


售前客服