杨杰可靠性测试参考表（模块）
晨欣小编
| 序号 | 试验项目 (Test Item) | 试验条件 (Condition) | 抽样数 (Sample size) | 判定标准 (Decision) | 试验依据 (Reference) |
| 1 | 高温反偏 （High Temperature Reverse Bias） | a、Voltage：80% Rated Voltage; b、Time：168h/1000h; c、Temperature：Fast Recovery Diode or Thyristor：125℃; Discrete Device,MOSFET or IGBT：145℃; Rectifier Diode：150℃. | 5PCS（FG） | LSL≤Electrical Parameter≤USL | IEC 60747 |
| 2 | 高温栅偏 (High Temperature Grating Bias) | a、Voltage： ±VGSmax/VGEmax; b、Temperature：Tstgmax ; c、Time：168h/1000h. | 5PCS（FG） | LSL≤Electrical Parameter≤USL | IEC 60747 |
| 3 | 温度循环 (Temperature Cycling) | a、Temperature：Low Temperature -55℃ for 30min; High Temperature 150℃ for 30min; b、Conversion Time：10s; c、Cycle Times：10Times/100Times. | 5PCS（FG） | LSL≤Electrical Parameter≤USL | IEC 60068-2-14 Test Na |
| 4 | 恒温恒湿 (Constant Temperature and Humidity ) | a、Temperature：85℃; b、Humidity：85% RH; c、Time：168h/1000h. | 5PCS（FG） | LSL≤Electrical Parameter≤USL | IEC 60068-2-67 |
| 5 | 功率循环 (Power Cycling) | a、ΔTJ=100℃+15/-10℃; b、Cycle Times：100Times/1000Times. | 5PCS（FG） | LSL≤Electrical Parameter≤USL | IEC 60749-34 |
| 6 | 高温存储 (High Temperature Storage) | a、Temperature：Tstgmax ; b、Time：168H/1000H. | 5PCS（FG） | LSL≤Electrical Parameter≤USL | IEC 60068-2-2 |
| 7 | 低温存储 (Low Temperature storage) | a、Temperature：Tstgmin; b、Time：168H/1000H. | 5PCS（FG） | LSL≤Electrical Parameter≤USL | IEC 60068-2-1 |
| 8 | 冲击试验 (Shock Test) | a、Max.：50G; b、Pulse Time：6ms,Sine Half Wave; c、Dir.: X / Y / Z，3 Positive and 3 Negative Impacts, 18Times in total. | 5PCS（FG） | LSL≤Electrical Parameter≤USL | IEC 60068-2-27 Test Ea |
| 9 | 震动试验 (Vibration Test) | a、Vibration Waveform：5~200 Hz,Sine Wave; b、Acceleration: 5g; c、Direction of Vibration：x, y, z d、Vibration Time：Frequency Sweep：5Hz~200Hz~5Hz, 1min, 2H per axle | 5PCS（FG） | LSL≤Electrical Parameter≤USL | IEC 60068-2-6 Test Fc |
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